扫描电镜制样步骤流程图片
- tem电镜样品
- 2024-04-19 13:20:20
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扫描电镜(SEM)是一种广泛用于的材料制备和分析技术。通过SEM技术,可以将材料样品制成极薄的薄膜,从而在样品表面形成一个清晰的图像。以下是扫描电镜制样步骤的流程图片。
1. 样品准备
将待测材料样品放置在扫描电镜样品台上,并使用夹具将其固定。将样品台上的光学系统调整至最佳状态,以确保获得清晰的图像。
2. 制样
使用扫描电镜将样品制成极薄的薄膜。扫描电镜通过将高能电子束射向样品,在样品表面产生一个薄膜。通过控制扫描电镜的扫描速度和能量,可以控制薄膜的厚度和质量。
3. 扫描
将扫描电镜的样品台旋转,使其与待测材料样品接触。扫描电镜将电子束射向样品表面,并通过探测器检测返回的电子信号。这些信号将形成一个图像,显示在扫描电镜的显示器上。
4. 分析
使用扫描电镜分析软件将扫描电镜图像进行分析。该软件可以用于测量薄膜的厚度、成分和结构。
5. 样品清洗
在分析过程中,样品可能会受到污染。因此,在分析之前,需要将样品清洗几次。使用特殊的清洗剂和设备,可以去除样品表面的污垢,以获得更清晰的图像。
6. 样品干燥
在清洗之后,需要将样品干燥。使用真空干燥箱或自然风干,将样品置于室温下。
7. 制备样品
将待测材料样品放置在扫描电镜样品台上,并使用夹具将其固定。将样品台上的光学系统调整至最佳状态,以确保获得清晰的图像。
8. 扫描
使用扫描电镜将样品制成极薄的薄膜。扫描电镜通过将高能电子束射向样品,在样品表面产生一个薄膜。通过控制扫描电镜的扫描速度和能量,可以控制薄膜的厚度和质量。
9. 分析
将扫描电镜的样品台旋转,使其与待测材料样品接触。扫描电镜将电子束射向样品表面,并通过探测器检测返回的电子信号。这些信号将形成一个图像,显示在扫描电镜的显示器上。
10. 重复
根据需要重复步骤2-9,以获得更清晰的图像。
通过以上步骤,可以将待测材料样品制成极薄的薄膜,并使用扫描电镜进行分析。扫描电镜技术可以提供关于样品表面结构和成分的高级信息,为各种材料的制备和分析提供可能。
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